MPŠ
MPŠ MP&Scaron MP&Scaron MP&Scaron Avtorji lukatarina

Mednarodna
podiplomska šola
Jožefa Stefana

Jamova 39
SI-1000 Ljubljana
Slovenija

Tel: (01) 477 31 00
Faks: (01) 477 31 10
E-pošta: info@mps.si

Išči

Opis predmeta

Mikroskopske in mikroanalizne metode (NANO3)

Programi:

Nanoznanosti in nanotehnologije, 3. stopnja

Sodelavci:

prof. dr. Albert Prodan
doc. dr. Goran Dražić
doc. dr. Sašo Šturm
prof. dr. Miran Čeh

Cilji:

Seznaniti študente s pomembnimi modernimi mikroskopskimi in mikroanaliznimi tehnikami, ki omogočajo identifikacijo in karakterizacijo strukture in kemijske sestave materialov na mikro-, nano- in atomarnem nivoju. Vse obravnavane tehnike so dostopne na Institutu Jožef Stefan.

Vsebina:

Predmet obsega teoretične osnove in praktično delo z naslednjimi tehnikami:

• elektronska mikroskopija: vrstična elektronska mikroskopija (SEM), transmisijska elektronska mikroskopija (TEM, CTEM, HRTEM), elektronska difrakcija (SAD, mikrodifrakcija), vrstična transmisijska elektronska mikroskopija (STEM, HAADF-STEM)
• tipalna mikroskopija (SPM): vrstična tunelska mikroskopija (STM ), mikroskopija na atomsko silo (AFM)
• mikroanaliza: energijsko-disperzijska spektroskopija rentgenskih žarkov (EDXS), valovno-disperzijska spektroskopija rentgenskih žarkov (WDXS), spektroskopija izgub energije elektronov (EELS).

Temeljna literatura in viri:

1. J. I. Goldstein et al., Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum Press, 1992
2. D. C. Joy, Principles of Analytical Electron Microscopy, Plenum Press, 1986
3. D. B. Williams, C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, 1996
4. Ludwig Reimer, Transmission Electrons Microscopy, Springer, 1997
5. R. Wiesendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy, Methods and applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994

Izbrane reference nosilca:

Prof. dr. A. Prodan
1. A. Prodan, V. Marinković, M. Rojšek, N. Jug, H. J. P. van Midden, F. W. Boswell, J. C. Bennett and H. Böhm, The Surface Superstructures in Niobium Disulfide and Diselenide Intercalated by Cu, Co and Fe, Surf. Sci., 476/1-2, 71-77 (2001).

2. A. Prodan, N. Jug, H. J. P. van Midden, H. Böhm, F. W. Boswell and J. C. Bennett, An alternative model for the structural modulation in NbSe3 and TaS3, Phys. Rev. B64, 115423 (2001).

3. S. W. Hla, A. Prodan, H. J. P. van Midden, Atomistic Stress Fluctuation at Surfaces and Edges of Epitaxially Grown Silver Nanorods, Nano Lett., 4, 1221-1224 (2004).

4. A. Prodan, N. Jug, H. J. P. van Midden, F. W. Boswell, J. C. Bennett and H. Böhm, Intercalation and Surface Supported Charge Density Waves in Nb3X4 (X = S, Se, Te), Ferroelectrics, 305, 89-93 (2004).

5. R. L. Withers, H. J. P. van Midden, A. Prodan, R. Vincent and J. Schoenes Charge Density Waves, Fermi surfaces and the anomalous electrical transport properties of UAsSe and ThAsSe, J. Sol. St. Chem., 179, 2190-2198 (2006).

6. P. Starowicz, C. Battaglia, F. Clerc, L. Despont, A. Prodan, H. J. P. van Midden, U. Szerer, A. Szytula, M. G. Garnier and P. Aebi, Electronic structure of ZrTe3, J. of Alloys and Comp., 442, 268-271 (2007).

Doc. dr. M. Čeh
1. M. Čeh, Scanning transmission electron microscopy (STEM) of Ruddlesden-Popper faults in nonstoichiometric CaTiO3, Acta chim. slov., 48, 63-76 (2001).

2. M. Remškar, A. Mrzel, Z. Škraba, A Jesih, M. Čeh, J. Demšar, P. Stadelmann, F. Levy, D. Mihailović, Self-assembly of subnanometer-diameter single-wall MoS2 nanotubes, Science (Wash. D.C.), 292, 479-481 (2001).

3. T. Yamazaki, N. Nakanishi, A Rečnik, M. Kawasaki, K. Watanabe, M, Čeh, M. Shiojiri, Quantitative high-resolution HAADF-STEM analysis of inversion boundaries in Sb2O3-doped zinc oxide, Ultramicroscopy, 98, 305-316 (2004).

4. M. Shiojiri, M. Čeh, S. Šturm, C.C. Chuo, J.T. Hsu, J.R. Yang, H. Saijo, Structural and compositional analyses of a strained AlGan/GaN superlattice, J. appl. phys., 100, 03110-1-03110-7 (2006).

5. H.L. Tsai, T.Y. Wang, J.R. Yang, C.C. Chuo, J.T. Hsu, M. Čeh, M. Shiojiri, Structural analysis of strained p-type AlGaN/GaN superlattice, J. appl. phys., 101, 023521-1-023521-6. 2007

Načini preverjanja znanja:

Ustni izpit.

Obveznosti študentov:

Ustni izpit.

Zunanje povezave: