PREDMETI

Cilji

Cilj predmeta je spoznavanje aktualnih problemov in najnovejših dosežkov na področju spektroskopije in mikroskopije.

Predmetnik

Uvod: elektronska struktura, magnetne lastnosti, simetrije v trdni snovi, interakcija svetloba-snov, interakcija elektroni-snov, osnove elektronske optike, nastanek slike v SEM in TEM. Spektroskopske tehnike: infrardeča spektroskopija, meritve reflektivnosti, infrardeča spektroskopija fononov, Fourier transform spektroskopija, elipsometrija, Ramanovo in Reyleighovo sipanje, ultrahitre časovno-ločljive tehnike, jedrska magnetna resonanca, elektronska spinska resonanca, mionska spinska rotacija, nevtronsko sipanje (elastično in neelastično). Mikroskopske tehnike: vrstična elektronska mikroskopija (SEM), presevna elektronska mikroskopija (TEM, CTEM, HRTEM), elektronska difrakcija (SAD, mikrodifrakcija), vrstična presevna elektronska mikroskopija (STEM, HAADF-STEM), energijsko-disperzijska spektroskopija rentgenskih žarkov (EDXS), tipalna mikroskopija (SPM), vrstična tunelska mikroskopija (STM ) in mikroskopija na atomsko silo (AFM).