MPŠ
MPŠ MP&Scaron MP&Scaron MP&Scaron Avtorji

Mednarodna
podiplomska šola
Jožefa Stefana

Jamova 39
SI-1000 Ljubljana
Slovenija

Tel: (01) 477 31 00
Faks: (01) 477 31 10
E-pošta: info@mps.si

Išči

Aktualne novice

19.10.2010
Predavanje z naslovom Metoda koncentričnega elektronskega sondiranja za kvantitativno kemijsko analizo posebnih mej v kristalih na podnanometrskem nivoju bo v torek, 26. oktobra 2010 ob 9:00 v predavalnici MPŠ.

Metoda koncentričnega elektronskega sondiranja za kvantitativno kemijsko analizo posebnih mej v kristalih na pod-nanometrskem nivoju

dr. Aleksander Rečnik


Ob splošnem napredku metod elektronske mikroskopije kvantitativno merjenje vsebnosti dopantov na mejah v kristaliničnih materialih predstavlja velik analitični izziv. To velja še posebej, če je dopant prisoten v izjemno nizkih količinah, ki so manjše od ene monoatomarne plasti. Glavna težava pri vrednotenju energijsko-disperzijskih rentgenskih spektrov (EDS) ali spektrov izgube energije elektronov (EELS) leži v napačno ocenjenem volumnu analize, ki ga z elektronskim snopom zajamemo. Napake, ki jih zaradi sipanja elektronov na poti skozi vzorec, njihovega dinamičnega uklanjanja in neznane topografije vzorca, se akumulirajo v napačni oceni geometrije in volumna analiziranega področja, to pa lahko vodi do izjemno velikih napak pri interpretaciji kemijske sestave vzorca. Za analizo mej v kristaliničnih materialih sta v uporabi tehnika linijskih profilov ter diferenčna metoda. Tehnika linijskih profilov temelji na zajemanju spektrov z zbranim elektronskim snopom, ki ga premikamo pravokotno na mejo, pri čemer spremljamo razliko v kemijski sestavi preko meje, medtem ko pri diferenčni metodi zajamemo en spekter na meji in enega v kristalu ter iz njune razlike sklepamo o sestavi meje. Za obe metodi je potrebno natančno poznati debelino vzorca, ki je poglavitni izvor statističnih napak. Pred časom pa je bila razvita metoda t.i. koncentričnega elektronskega sondiranja (CEP), ki temelji na zajemanju EDS ali EELS spektrov z zaporednimi elektronskimi snopi različnih premerov s skupnim centrom na izbranem mestu na meji, ki jo analiziramo. Ob poznani geometriji meje se nezaželen efekt debeline vzorca eliminira, rezultat pa je zelo natančna in točna meritev vsebnosti dopanta na meji. CEP metoda je z dva velikostna razreda bolj točna in, odvisno od števila meritev, do velikostnega razreda bolj natančna od primerljivih analitskih metod. Metoda bo prikazana na različnih dvojčičnih in drugih posebnih mejah v nekaterih sintetskih materialih in naravnih mineralih.