MPŠ
MPŠ MP&Scaron MP&Scaron MP&Scaron Avtorji

Mednarodna
podiplomska šola
Jožefa Stefana

Jamova 39
SI-1000 Ljubljana
Slovenija

Tel: (01) 477 31 00
Faks: (01) 477 31 10
E-pošta: info@mps.si

Išči

Aktualne novice

7.10.2016
Vabimo vas na 4. predavanje iz sklopa "Kolokviji na IJS" v letu 2016/17, ki bo v sredo, 12. oktobra 2016, ob 13. uri v Veliki predavalnici Instituta »Jožef Stefan«  na Jamovi cesti 39 v Ljubljani.

prof. dr. Peter A. van Aken

Max Planck Institute for Solid State Research, Stuttgart, Nemčija

Strukturni defekti in lokalna kemija vmesnih struktur kompleksnih oksidnih medfaznih mej

Fizikalne in kemijske lastnosti oksidov prehodnih kovin, kot so feroelektričnost, magnetizem, ionska in elektronska prevodnost,  so odvisne predvsem od  njihovih kristalnih struktur, ki so bile v preteklih letih intenzivno raziskovane. Zamenjava kationov v kompleksnih oksidih je učinkovit način za razvoj različnih funkcionalnosti preko dopiranja, spreminjanja elektronskih pasov ali uporabe kemijskega tlaka. Sklopitev med nabojem in spinskimi prostostnimi stopnjami preko stičnih mej ter profili koncentracij nosilcev naboja imajo na primer velik vpliv na pojav superprevodnosti v nizkodimenzionalnih sistemih. Superprevodnost nastopi, ko izolatorsko spojino dopiramo preko kritične koncentracije. Obenem lahko magnetno obnašanje in prevodnost superstruktur kompleksnih oksidnih supercelic prilagajamo z debelino plasti in z izbiro primernega vmesnega sloja.

Na voljo imamo različne metode za rast nadzorovanih supercelic, med katerimi je verjetno najbolj priljubljeno pulzno lasersko nanašanje (ang. pulsed laser deposition, PLD). Vse popularnejša je uporaba epitaksije z molekularnim curkom (ang. molecular beam epitaxy, MBE) zaradi nadzorovane hitrosti depozicije in prilagodljivosti uporabe posameznih virov elementov, s katero lahko teoretično spreminjamo kemijsko sestavo od plasti do plasti. PLD zahteva višje temperature in tlake kot MBE ter višje energije delcev v curku, kar povzroča hrapavost površine. V predavanju bomo predstavili probleme mapiranja lokalnih struktur in površinske kemije faznih mej različnih kompleksnih oksidov s pomočjo vrstičnega presevnega elektronskega mikroskopa (S-TEM) v kombinaciji z energijsko-disperzijsko spektroskopijo rentgenskih žarkov (ang. energy-dispersive x-ray spectroscopy, EDXS) in spektroskopijo merjenja izgub energije elektronov (ang. electron energy-loss spectroscopy, EELS). EELS omogoča lokalno analizo kemijske sestave in vezi kot tudi elektronskih in magnetnih struktur, zato je kombinacija EELS in S-TEM idealna za študij povezav strukturnih lastnosti na atomski ravni.

Napovednik predavanja najdete tudi na naslovu http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev, posnetke preteklih predavanj pa na http://videolectures.net/kolokviji_ijs.

Predavanje bo v angleščini.

Lepo vabljeni!