MPŠ
MPŠ MP&Scaron MP&Scaron MP&Scaron Avtorji

Mednarodna
podiplomska šola
Jožefa Stefana

Jamova 39
SI-1000 Ljubljana
Slovenija

Tel: (01) 477 31 00
Faks: (01) 477 31 10
E-pošta: info@mps.si

Išči

Opis predmeta

Karakterizacija sestave in strukture

Programi:

Nanoznanosti in nanotehnologije, 3. stopnja

Sodelavci:

prof. dr. Iztok Arčon

Cilji:

Pri predmetu študenti spoznajo sodobne spektroskopske in mikroskopske metode pri karakterizaciji atomske in elektronske strukture materialov.

Vsebina:

Predmet obravnava interakcijo elektromagnetnega valovanja s snovjo v širokem frekvenčnem območju od infrardeče do rentgenske svetlobe. Slušatelji se podrobneje seznanijo s posameznimi spektroskopskimi metodami, ki se najpogosteje uporabljajo pri karakterizaciji materialov (kristaliničnih in amorfnih), tekočih prekursorjev, nanostrukturnih snovi in površin (npr. rentgenske absorpcijske in emisijske spektroskopije, spektroskopske metode pri vzbujanju z UV vidno ali IR- svetlobo, XRD).
Predstavljene so lastnosti najpomembnejših, predvsem sinhrotronskih virov svetlobe, ki jih posamezne spektroskopske metode izkoriščajo. Poudarek je na uporabnosti posameznih spektroskopskih metod in njihovem medsebojnem dopolnjevanju. Študentje na realnih primerih preverjajo, katera kombinacija spektroskopskih metod je optimalna pri analizi specifične lastnosti materiala.

Temeljna literatura in viri:

Handbook on synchrotron radiation, edited by Ernst-Eckhard Koch General editors: D. E. Eastman & Y. Farge North-Holland
Publishing Company (1983)

X-ray absorption spectroscopy (principles, applications, techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES), edited by D. C.
Konnigsberger and R. Prins, John Wiley and Sons, NY (1988)

M. Fernandez-Garcia, XANES analysis of catality systems under reaction conditions, Catalysis Reviews, 44(1), (2002) 59-121
J. J. Rehr, R. C. Albers, Theoretical approaches to x-ray absorption fine structure, Reviews of Modern Physics, Vol. 72, No. 3, July 2000, 621-654

The optical principles of the diffraction of x-rays, R. W. James, Ox bow press, Woodbridge, Connecticut (1962)

Principles of Instrumental analysis, D.A. Skoog, F.J. Holler, T.A.Nieman, Saunders Collage publishing, Chicago (1998)

I. Arčon, Introduction to XANES and EXAFS analysis. Nova Gorica: [I. Arčon], 2008. 35 str., ilustr. [COBISS.SI-ID 933883]

I. Arčon, X-ray absorption spectroscopy : a practical guide to structural analysis of materials with EXAFS and XANES analysis. Nova Gorica: [I. Arčon], 2008. 51 str., ilustr. [COBISS.SI-ID 934139]

V. Kaučič, N. Zabukovec Logar, I. Arčon,. Characterisation of microporous and mesoporous solids using complementary
diffraction and X-ray absorption spectroscopic techniques. V: Characterization techniques for zeolites and related materials: state of the art and recent developments. [S.l.: s.n.], 2008, str. 91-123. 2nd FEZA school 2008, Universite Pierre et marie Curie, Paris, September 1-2, 2008 [COBISS.SI-ID 3992602]

Literatura na svetovnem spletu/ Sources on the web:
I. Arčon: Spletno študijsko gradivo za rentgensko absorpcijsko spektrometrijo / X-ray absorption spectroscopy:
http://www.p-ng.si/~arcon/xas in http://www.p-ng.si/~arcon/xas-si
M. Newville and B. Ravel: IFFEFIT - Programski paket za analizo spektrov EXAFS, http://cars9.uchicago.edu/iffwiki/Ifeffit

Izbrane reference nosilca:

I. Arčon, A. Pastrello, L. catalano, M. De Nobili, P. Pierpaolo Cantone, L. Leita, Interaction between Fe-Cyanide Complex and Humic Acids Environ. chem. lett. (Internet), vol. 4, (2006), 191-194.

B. Malič, I. Arčon, A. Kodre, M. Kosec, Homogeneity of Pb(Zr, Ti)O3 thin films by chemical solution deposition : extended x-ray absorption fine structure spectroscopy study of zitconium local environment. J. Appl. Phys., 100, (2006), 051612-051612-8

I. Arčon, J. Kolar, A. Kodre, D. Hanžel, M. Strlič, XANES analysis of Fe valence in iron gall inks. X-ray spectrom., vol. 36, (2007) 199-205

J. Padežnik Gomilšek, I. Arčon, S. de Panfilis, A. Kodre, X-ray absorption coefficient of iodine in the K edge region, J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 41 (2008) 025003

I. Arčon, J. T. van Elteren, H. J. Glass, A. Kodre, Z. Šlejkovec, EXAFS and XANES study of Arsenic in contaminated soil, X-ray Spectrometry, 34 (2005) 435 - 438

Načini preverjanja znanja:

Način (pisni izpit, ustno izpraševanje, naloge,
projekt):
• projekti in ustni izpit

Obveznosti študentov:

• projekti in ustni izpit

Zunanje povezave: