ZAGOVOR DOKTORSKE DISERTACIJE JERNEJA EKARJA

Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2

Zagovor doktorske disertacije Jerneja Ekarja

Objavljeno: 11. apr. 2024

MPŠ vabi na zagovor doktorske disertacije Jerneja Ekarja z naslovom: Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2. Zagovor bo v ponedeljek, 22. aprila 2024, ob 11:00 v predavalnici MPŠ, Jamova 39, Ljubljana. Zagovor lahko spremljate tudi na povezavi: https://us02web.zoom.us/j/81956454297?pwd=MlA0OUNyejJJNkFRbEphS3BrMndRdz09 (Meeting ID: 819 5645 4297, Passcode: 020274).

Kratek povzetek dela:

Masna spektrometrija sekundarnih ionov (SIMS) je analitska metoda za preiskave kemijske sestave površin. Z njo analiziramo samo zgornjih nekaj atomskih oz. molekulskih plasti, ob uporabi posebnih nastavitev pa lahko spremljamo tudi globinsko sestavo vzorca. V okviru doktorske naloge smo optimizirali tehniko SIMS, tako da smo v analitsko komoro, v kateri je običajno ultra visoki vakuum, vpuščali različne reaktivne pline. Najbolje se je odrezal H2, ki je izboljšal kvantitativnosti metode in optimiziral možnosti spremljanja globinske sestave.

Nazaj na novice