Rezultati iskanja (13)
Snovanje testne infrastrukture za jedra analogno-digitalnih pretvornikov v sistemu v čipu
V sodobni elektroniki se vedno intenzivneje uveljavljajo integrirana vezja, ki vsebujejo množico različnih (digitalnih, analognih in mešanih) komponent v istem ohišju. Z razvojem takšnih sistemov v čipu se je pojavila potreba po razvoju primernih praktičnih rešitev za testiranje vgrajenih analogno-digitalnih jeder. Zaradi kompleksne strukture sistema v čipu so močno omejene …
Absorpcija vodika v zlitinah Ti-Zr-Ni
Delo v sklopu te doktorske disertacije je obsegalo raziskave zlitin na osnovi elementov titana, cirkonija, hafnija, niklja in bakra kot dopanta, s sledečimi sestavami: Ti40Zr40-xNi20Cux (x=3, 5), Ti45Zr38-xNi17Cux (x=3, 5), Ti53Zr27-xNi20Cux (x=3, 5) in Ti58Zr24-xNi18Cux (x=3, 5). Študirali smo različne tehnike za pripravo t.i. ikozaedrične kvazikristalne faze (i-faza), ki je …
Vsestranska ocena merilne negotovosti nevtronske aktivacijske analize, temelječe na faktorjih k0
Nevtronska aktivacijska analiza (NAA) je analizna metoda, ki omogoča določanje masnih deležev elementov v različnih vzorcih. Temelji na inducirani jedrski reakciji jedra opazovanega elementa z nevtroni in na merjenju pri tem izsevanih žarkov γ. k0-metoda NAA je posebna različica NAA, pri kateri jedrske konstante opazovanega elementa in primerjalnega standarda (komparatorja) …