Rezultati iskanja (2)
Optimizacija ToF-SIMS profilne analize v nizkotlačni atmosferi H2, C2H2, CO in O2
Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (ToF-SIMS) je vsestransko uporabna metoda, namenjena analizi površin in tankih plasti. Daje informacije o elementarni, molekularni in izotopski sestavi, ima zelo nizko mejo detekcije in visoko lateralno ločljivost, je hitra in uporabna za vse vzorce, ki so kompatibilni z vakuumom, in …
Optimizacija in uporaba masne spektrometrije sekundarnih ionov z merjenjem časa preleta v standardnem in nizkem energijskem načinu MeV primarnega ioskega žarka
Masna spektrometrija sekundarnih ionov z merjenjem časa preleta z uporabo MeV ionov (MeV ToF SIMS) je že nekaj desetletij uveljavljena površinsko občutljiva metoda za detekcijo molekulskih ionov z masami do 1000 Da. Metoda omogoča odlično lateralno ločljivost nekaj μm za slikanje organskih vzorcev, zato se je pokazala kot zelo uporabna …