ECTS Kreditne točke
Predavatelji |
---|
|
Smeri |
|
Cilji: - slušatelj pozna zmogljivosti in specifičnosti naprednih analiznih metod z visokoenergijskimi ionskimi žarki, - slušatelj razume strukturo rentgenskega emisijskega spektra PIXE, - slušatelj razume fizikalne procese in iz njih sklepa na obliko spektra povratno sipanih ionov, - slušatelj poišče optimalno energijo in vrsto žarka za rešitev izbranega analitskega problema. Kompetence: - slušatelj zna po opravljenem predmetu poiskati analizno metodo s hitrimi ioni za rešitev raziskovalnega problema na njemu bližnjem raziskovalnem področju, - slušatelj obvlada osnovno orodje za analizo rentgenskega emisijskega spektra PIXE za določitev koncentracije elementov v sledeh v vzorcu, - slušatelj obvlada osnovno orodje za simulacijo in analizo spektra povratno sipanih ionov in je iz oblike spektra sposoben določiti stehiometrijo in elementni globinski koncentracijski profil tanke plasti.
Obveznosti
Zaključen študij druge stopnje ustrezne (naravoslovne ali tehniške) smeri ali zaključen študij drugih smeri z dokazanim poznavanjem osnov področja predmeta (pisna dokazila, pogovor).Preverjanje znanja