Rezultati iskanja (2)
Optimizacija in uporaba masne spektrometrije sekundarnih ionov z merjenjem časa preleta v standardnem in nizkem energijskem načinu MeV primarnega ioskega žarka
Masna spektrometrija sekundarnih ionov z merjenjem časa preleta z uporabo MeV ionov (MeV ToF SIMS) je že nekaj desetletij uveljavljena površinsko občutljiva metoda za detekcijo molekulskih ionov z masami do 1000 Da. Metoda omogoča odlično lateralno ločljivost nekaj μm za slikanje organskih vzorcev, zato se je pokazala kot zelo uporabna …
Bisphenol residues in the aqueous environment: occurrence and fate
Bisfenoli so skupina industrijskih spojin, ki postajajo zaradi svoje prisotnosti v okolju in endokrinih učinkov prepoznani kot prioritetna organska onesnaževala. Uporabljajo se predvsem pri izdelavi polikarbonatne plastike, epoksi smol in termičnega papirja. Večinoma je njihova uporaba neregulirana. Izjema je bisfenol A, ki je prepovedan v stekleničkah za dojenčke na globalnem …